KDY-1A便攜式電阻率測試儀(成套)

1、符合半導體材料電阻率的國際及標準測試方法。

2、測量厚度大于4倍探針間距的硅晶體，也可測量薄硅片電阻率及方阻。

3、電阻率測量范圍復蓋常用的區段：0.01—199.9Ω·cm。（可添加電阻率小于0.5Ω·cm的報警功能）

     方塊電阻測量范圍復蓋常用的區段：0.1—1999Ω/□。（可添加方塊電阻小于5Ω/□的報警功能）

4、配置高精度恒流源，測量電流穩定，分兩檔：1mA、10mA，每檔均可在大范圍內調節（1mA：0.1—1mA；10mA：1mA—10mA）。

5、測量精度高：電器測量精度優于0.3%；

     整機測量誤差：測量1-100Ω·cm的標準硅片誤差≤±3%。

     測量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的標準硅片誤差≤±5%。

6、重量輕，約2.5kg；體積小：240×210×100（mm）。

7、可配用多種探針間距的四探針頭：1.00mm、1.59mm。