Leica DCM8徠卡共聚焦干涉顯微鏡-3D光學表面測量系統：

Leica DCM8徠卡白光共聚焦干涉顯微鏡，是具有非接觸式三維光學表面測量新技術的測量系統，融合了微米級分辨率共聚焦顯微技術和亞納米級垂直分辨率的干涉測量技術，是具有多功能超高速3D表面測量的雙核系統，可提供鮮明的真彩成像效果，為高精度表面分析工作中任何測量觀察任務提供一站式解決方案。模式選擇一鍵完成，智能軟件、無移動部件的高分辨率共聚焦掃描技術確保用戶實現超快速的分析操作。大大提高了工作效率。
其通過各種規格的徠卡物鏡、電動載物臺和鏡筒來對系統進行配置，能夠完全適用于所測量的樣品。徠卡DCM8包括1個高清CCD攝像頭和4個LED光源（RGB和白色）；直觀的2D和3D軟件便于數據采集和分析，同時可以滿足對文檔創建需求。

?Leica DCM8徠卡共聚焦干涉顯微鏡-關鍵特征體現優勢：

精確性高，功能多樣，滿足各種表面測量需求
? 高清共聚焦顯微技術可實現更高橫向分辨率、斜率求解和成像
? 高清干涉測量技術可實現高達0.1nm的縱向分辨率
? 顯微鏡通過明場和暗場方便地實現圖像快速精確攝取
? 具有四盞RGB高清彩色成像LED，應用范圍更廣泛
? 能使用三種方法測量厚薄不同的薄膜
? 卓越的光學元件、高清CCD攝像頭與LED光源相結合，加上高分辨率和對比度提供水晶般清晰透徹的高質量圖像
? 依據具體需求選配組件和物鏡，量身定制，充分滿足測量要求

簡單、快速、耐用，省時省力，省資金， 實現精確測量
? 操作簡單，無需準備樣品或切換儀器
? 采用數字高清共聚焦掃描，快速、可靠
? 通過大視場和自動拼接所攝取的3D模型組成大表面形貌圖像，輕松獲取準確數據
? 智能直觀的2D和3D軟件，適用于數據采集和分析
? 提供三種干涉測量模式，明視場模式和暗視場模式，使其具有更高的精確度和可重復性
? 設備在使用壽命期限內除正常清潔保養外，幾乎不需要任何維護，非常耐用